技术交流热线:
022-66231881
您所在位置:

联系我们

  • 天津众智科技有限公司

  • 电话:189 2006 0095
  • 邮箱:weili.wang@sigmainnova.com
  • 地址:天津滨海新区新北公路4668号创新创业园24栋4楼D角

结构与组成分析

  1.分析方法

  1)X射线分析

  2)扫描电镜


  2.分析仪器

  实验室配备多台X射线分析仪器、红外及近红外光谱分析仪器以及带能谱的扫描电镜,可实现样品结构和元素组成定性定量分析。

b18.jpgb19.jpg

X射线衍射仪Bruker D8 Discover          

测量范围:-10°-155°                  

角度重现性:0.0001°                  

微区最小测量范围:直径50微米

X射线荧光光谱仪 Oxford ED2000

样品性质:固体、液体、薄膜

测试元素:Na-U

测试浓度:ppm-100%

  
b20.jpgb21.jpg

REACT IR4000

SEM TM-1000


上一篇: TPD 分析
下一篇: 表面电势分析